透射电子显微镜
[ 基础信息 ]
生产国家 : 日本
制造厂商 : 日本电子
购置日期 : 2019-04-10
规格型号 : JEM-F200
[ 分类信息 ]
设备类型 : 材料微区与表面分析
设备编号 : 156010-2400306-000073022
[ 联系信息 ]
联系人 : 曾珊珊, 张工亚, 陈佳阳
存放地址 : 高水平实验楼A座高水平实验楼A108
联系电话 : 13128432926
联系邮箱 :
[ 附加信息 ]
主要附件及配置 :
无
主要功能及特色 :
透射电子显微镜可以进行样品的形貌分析、结构分析和成分分析。可广泛应用于金属、矿物、半导体、陶瓷、生物、高分子、复合材料、催化剂等物质的纳米尺度微分析。
主要规格及技术指标 :
电子枪类型：热场发射型枪；
最高加速电压：200KV；
配有 HAADF 附件和能谱探头；
最高分辨率：点分辨率 0.19nm；线分辨率 0.1nm； STEM HAADF分辨率 0.16 nm；能谱能量分辨率 133eV。 最高放大倍数： TEM X2000000 倍；STEM X150000000 倍；
